Budapest University of Technology and Economics, Faculty of Electrical Engineering and Informatics

    Belépés
    címtáras azonosítással

    vissza a tantárgylistához   nyomtatható verzió    

    Beágyazott rendszerek analízise laboratórium

    A tantárgy angol neve: Analysis of Embedded Systems Laboratory

    Adatlap utolsó módosítása: 2008. szeptember 6.

    Tantárgy lejárati dátuma: 2015. január 31.

    Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem
    Villamosmérnöki és Informatikai Kar

    Villamosmérnöki Szak

    Beágyazott információs rendszerek főszakirány

     

    Tantárgykód Szemeszter Követelmények Kredit Tantárgyfélév
    VIMM3063 6. 2/0/0/f 3 1/1
    3. A tantárgyfelelős személy és tanszék Dr. Sujbert László,
    A tantárgy tanszéki weboldala http://www.mit.bme.hu/oktatas/targyak/vimm3063/
    4. A tantárgy előadója

    Név:

    Beosztás:

    Tanszék, Int.:

    dr. Sujbert László

    docens

    MIT

    5. A tantárgy az alábbi témakörök ismeretére épít

    Hálózatok és rendszerek, Méréstechnika, Híradástechnika, Elektronika

    7. A tantárgy célkitűzése

    A laboratóriumi gyakorlatok célja, hogy a hallgatók megismerkedjenek a beágyazott rendszerek analízise során gyakran használt mérőeszközökkel, illetve mérési eljárásokkal, továbbá konkrét mérőrendszerek megismerése során szerezzenek tapasztalatot a témakörben. A mérési feladatok megoldása nem igényel mély szakirányú ismereteket, ugyanakkor alapozunk az 5. pontban említett tárgyak anyagára, különösen a jelek és rendszerek idő- és frekvenciatartománybeli leírása, oszcilloszkópok és spektrumanalizátorok, A/D és D/A átalakítás, mintavételezés és kvantálás témakörökben tanultakra. A tantárgy célja, hogy elmélyítse az elméleti ismereteket, és a legfontosabb összefüggéseket kézzelfoghatóvá tegye.

    8. A tantárgy részletes tematikája

    A szemeszter során 5 tematikus mérésre kerül sor. Ezek a következők:

    • Mérések digitális oszcilloszkóppal. A mérés célja a digitális oszcilloszkópok bemutatása, megismerése. A mérési feladatok a digitális oszcilloszkópok azon funkcióit hangsúlyozzák, amelyek az analóg oszcilloszkópokon nem, vagy csak korlátozottan alkalmazhatók.
    • Mérések spektrumanalizátorokkal. A mérés célja heterodin és FFT alapú spektrumanalizátorok bemutatása, megismerése. A mérési feladatok rávilágítanak a jelek és rendszerek frekvenciatartománybeli jellemzésének előnyeire, illetve a különböző mérési módszerek közötti különbségekre.
    • A/D és D/A átalakítók vizsgálata. A mérés célja az A/D és D/A átalakítás folyamatának megismerése. PC-hez csatlakoztatott jelfeldolgozó kártyák és számítógépes programok segítségével lehetőség nyílik az A/D és D/A átalakítás lineáris és nemlineáris torzításának vizsgálatára.
    • Elektronikus mérleg vizsgálata. A mérés célja, hogy a hallgatók megismerjék a nyúlásmérő hidak alkalmazását. A mérés tárgya egy mechanikus mérlegre szerelt, nyúlásmérő bélyegekkel kialakított vivőfrekvenciás mérőhíd, illetve a jelek feldolgozására alkalmas DSP-alapú mérőrendszer. A feladatok végigkövetik a teljes jelátalakítási folyamatot.
    • Rezgésanalízis. A mérés célja egy másik gyakran alkalmazott beágyazott rendszer: egy rezgésanalizátor vizsgálata. A mérési feladatok megoldása során megismerhetők a gyorsulásérzékelők, mikrofonok és a hozzájuk szükséges elektronikus eszközök, továbbá a feszültséggé alakított jelek feldolgozásának eszközei.
    9. A tantárgy oktatásának módja (előadás, gyakorlat, laboratórium)

    laboratóriumi gyakorlat

    10. Követelmények

    A méréseken a részvétel kötelező. A méréseken felkészülten kell megjelenni. A felkészültséget külön nem ellenőrizzük, de a mérési feladatok eredményes elvégzéséhez szükség van felkészülésre. Minden mérésről jegyzőkönyvet kell készíteni, mérőcsoportonként egyet. A jegyzőkönyvre osztályzatot adunk. Ha a jegyzőkönyvre adott osztályzat elégtelen, a mérés eredménytelen, és pótolni kell.

    A félév végén egy ellenőrző mérést tartunk, amelynek során egy, a tematikus mérések során szerepelt részfeladatot kell elvégezni.

    A félévközi jegy kiszámításának módja: 0,5*jegyzőkönyv osztályzatok átlaga + 0,5*ellenőrző mérés osztályzata. Kerekítés 50 századtól felfelé.

    11. Pótlási lehetőségek

    A félév során egy mérés pótolható, függetlenül a hiányzás okától. Több eredményesen el nem végzett mérés esetén (pl. hosszabb betegség), a félév további menete a tárgyfelelőssel egyeztetendő. Elégtelen ellenőrző mérés egy alkalommal pótolható.

    12. Konzultációs lehetőségek

    A mérésvezetőkkel esetenként egyeztetett helyen és időben.

    13. Jegyzet, tankönyv, felhasználható irodalom
    • Mérési útmutatók
    • az 5. pontban felsorolt tárgyak tankönyvei, jegyzetei
    • Schnell László (szerk.), �Jelek és rendszerek méréstechnikája�, J-5 1435, 1435/a, 1435/b.
    • Simonyi Ernő, �Digitális szűrők. A digitális jelfeldolgozás alapjai�, Műszaki Könyvkiadó, Budapest, 1984.
    14. A tantárgy elvégzéséhez átlagosan szükséges tanulmányi munka

     

    Kontakt óra

    28

    Félévközi készülés órákra

    25

    Felkészülés ellenőrző mérésre

    12

    Jegyzőkönyv elkészítése

    25

    Összesen

    90

    15. A tantárgy tematikáját kidolgozta

    Név:

    Beosztás:

    Tanszék, Int.:

    dr. Sujbert László

    docens

    MIT

    dr. Naszádos László

    adjunktus

    MIT