Budapest University of Technology and Economics, Faculty of Electrical Engineering and Informatics

    Belépés
    címtáras azonosítással

    vissza a tantárgylistához   nyomtatható verzió    

    Minőségbiztosítás a mikroelektronikában

    A tantárgy angol neve: Quality Assurance in Microelectronics

    Adatlap utolsó módosítása: 2014. július 16.

    Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem
    Villamosmérnöki és Informatikai Kar

    Villamosmérnöki szak  

    MSc képzés  

    Közös tantárgy 

    Tantárgykód Szemeszter Követelmények Kredit Tantárgyfélév
    VIETMA05 1, 3 3/0/0/f 4  
    3. A tantárgyfelelős személy és tanszék Dr. Illés Balázs György, Elektronikai Technológia Tanszék
    4. A tantárgy előadója
    Név:

    Dr. Mizsei János

    Beosztás:

    Egyetemi tanár

    Tanszék, Int.:

    Elektronikus Eszközök Tanszék

    Dr. Illés BalázsEgyetemi docensElektronikai Technológia Tanszék
    Hajdu István Tudományos mts. Elektronikai Technológia Tanszék
    Dr. Németh Pál Adjunktus Elektronikai Technológia Tanszék 
    5. A tantárgy az alábbi témakörök ismeretére épít

    Anyagtudomány

    Fizika

    Elektronikai technológia

    Mikroelektronika
    6. Előtanulmányi rend
    Kötelező:
    NEM ( TárgyEredmény( "BMEVIETM109" , "jegy" , _ ) >= 2
    VAGY
    TárgyEredmény("BMEVIETM109", "FELVETEL", AktualisFelev()) > 0)

    A fenti forma a Neptun sajátja, ezen technikai okokból nem változtattunk.

    A kötelező előtanulmányi rendek grafikus formában itt láthatók.

    Ajánlott:
    Ajánlott:
    Elektronikai technológia, Mikroelektronika 
    7. A tantárgy célkitűzése A tantárgy célkitűzése megismertetni a hallgatókat a minőségbiztosítás, minőségirányítás fogalmával, eszmerendszerével és szükséges eljárásaival. Bemutatja az elektronikai anyagok villamos jellemzőinek, mikromechanikai tulajdonságainak vizsgálatára alkalmas villamos és nem villamos módszereket. Foglalkozik az elektronikai alkatrészipar és az elektronikai szerelőipar jellegzetes minőségbiztosítási feladataival, módszereivel. A minőségbiztosítás általános fogalmainak és módszereinek megismerése után a tárgy kitér a mikroelektronika speciális minősítési módszereinek tárgyalására. Tárgyalja a legfontosabb eszközvizsgálati módszereket, és azok eszközeit. Bemutatja a mikroelektronikai tesztelhetőre való tervezés fontosságát ill. annak elemeit. A hallgatók megismerkednek a megbízhatóság előrejelzésének matematikai módszereivel és a hibamechanizmusok felderítésére alkalmas legfontosabb vizsgálatokkal.
    8. A tantárgy részletes tematikája

    1. A tárgy és a félévközi követelmények bemutatása. A minőségügy statisztikai alapjai. Valószínűség számítás és a statisztika, Valószínűségi változók és eloszlások, az ingadozás paraméterei, nagyszámok törvényei.

    2. A minőség fogalma, a minőségbiztosítási elvek és rendszerek. A TQC, TQM és ISO 9xxx keletkezése, alapelvei. Egyéb minőségbiztosítási rendszerek, MES, stb. 

    3. Statisztikai adatok grafikai reprezentációi és hibatípusok fajtái. Normalitás-vizsgálat, Idősorok és „bar chart”-ok 

    4. Mintavételezés alapjai és a mintavételes ellenőrzés Az AQL módszer és alkalmazása, példák. 

    5. Mintaértékelés, Becsléselmélet, Mintavételes becslésének pontossága, hipotézis vizsgálatok, összefüggőség vizsgálatok.

    6. Az SPC (Statistic Process Control) módszer, Az SPC alapjai, adatgyűjtés és osztályozás, Folyamatparaméterek és szabályozókártyák, elfogadási és beavatkozási határok, SPC döntési algoritmusok, példák.

    7-8. Roncsolásmentes tesztelési és hibaanalitikai módszerek. Optikai vizsgálatok, röntgen vizsgálatok, akusztikus mikroszkópia és ezek alkalmazásai az elektronikai anyagok, alkatrészek és szerelt egységek minősítő folyamataiban.

    9.-10. Az integrált áramkörök minősítési módszerei. A mikroelektronikai struktúrák vizsgálati módszerei. A mikroelektronikai eszközök jellegzetes vizsgálati módszerei. Struktúrák vizsgálata: mikroszkópi vizsgálat optikai, elektron-, atomerő és alagútáram-mikroszkópia. Felületi potenciál térképezés.

    11.-12.. Eszközvizsgálati módszerek. Sztatikus karakterisztika és paraméterek mérése áramerősítés, küszöbfeszültség, áram-állandó, küszöbfeszültség alatti áram, stb. Dinamikus jellemzők mérése, határfrekvencia, kapacitás, stb.. Hőmérsékletfüggés mérése, impulzusmérés. 

    13.-14. A technológia tesztelése: Mikroelektronikai tesztelő struktúrák tervezése. A technológia tesztelésére szolgáló legfontosabb módszerek: tesztábrák adalékdózis, illesztési hiba, küszöbfeszültség, stb. mérésére. A tesztáramkörök (pl. ring oszcillátor) szerepe és fontosabb megvalósítása.

    15.-16. Termikus teszt. A termikus tesztelés fontossága a mai mikroelektronikában. A termikus tesztelés módszerei: termovízió, folyadékkristályos hőtérképezés, sztatikus és dinamikus termikus tokminősítés, termikus tranziens teszt, kompakt modellezés. 

    17. Gyorsított megbízhatósági vizsgálatok. A legfontosabb gyorsító tényezők. A gyorsított vizsgálatok módszerei és eszközei. Termékek várható élettartamának meghatározása.

    18. Passzív elektronikai alkatrészek minősítési módszerei. Rrezisztív, kapacitív, induktív struktúrák. Szereletlen áramköri hordozók (összeköttetés-rendszerek és passzív hálózatok) vizsgálata. Kötések, tokozások minősítése.

    19. Gép- és folyamatképesség vizsgálatok. Hibaráta fogalma, Gép- és folyamatképességi indexek, Minőségkapacitás, Stabilitás, Példák

    20-21.. Termékek megbízhatósága. A meghibásodás okai és fajtái. Az állományfüggvény. A megbízhatósági függvények. A várható működési idő. A megbízhatósági jellemzők becslési módszerei. Rendszerek megbízhatósága, tartalékolás. 

    9. A tantárgy oktatásának módja (előadás, gyakorlat, laboratórium) előadás
    10. Követelmények A félév teljes tananyagát felölelő két nagyzárthelyi sikeres teljesítése a szorgalmi időszakban. A félévvégi jegy a két (7. és 14. héten megírt) nagyzárthelyire adott osztályzatok átlagából adódik.
    11. Pótlási lehetőségek 1 darab sikertelen zárthelyi pótlása az utolsó tanulmányi héten órarenden kívüli időpontban., valamint a pótlási héten lehetséges, a TVSZ rendelkezéseinek megfelelően.
    12. Konzultációs lehetőségek Igény szerint, félév közben, az előadókkal egyeztetett időpontban folyamatosan.
    13. Jegyzet, tankönyv, felhasználható irodalom

    Szabó Gábor Csaba (szerk.): Minőségszabályozás és –ellenőrzés. Műegyetemi Kiadó, Budapest 1997.

    Tenner, A.R., - DeToro, I.J.: Teljes körű minőségmenedzsment, TQM. Műszaki Könyvkiadó, Budapest 1997.

    Tóth T.: Minőségmenedzsment és informatika. Műszaki Könyvkiadó, Budapest 1999.

    Mikroelektronika és elektronikai technológia, szerk. Mojzes Imre, Tankönyvkiadó, 2005

    14. A tantárgy elvégzéséhez átlagosan szükséges tanulmányi munka
    Kontakt óra42
    Félévközi készülés órákra18
    Felkészülés zárthelyire40
    Házi feladat elkészítése-
    Kijelölt írásos tananyag elsajátítása20
    Vizsgafelkészülés-
    Összesen120
    15. A tantárgy tematikáját kidolgozta
    Név: Beosztás: Tanszék, Int.:
       
    Dr. Illés Balázsegyetemi docensElektronikus Eszközök Tsz
    Dr. Mizsei Jánosegyetemi tanárElektronikus Eszközök Tsz
    Hajdu István

    tudományos mts.

    Elektronikai Technológia Tsz

    Dr. Németh Pál c. egyetemi docensElektronikai Technológia Tsz
    Dr. Székely Vladimiregyetemi tanárElektronikus Eszközök Tsz