Budapest University of Technology and Economics, Faculty of Electrical Engineering and Informatics

    Belépés
    címtáras azonosítással

    vissza a tantárgylistához   nyomtatható verzió    

    Hibaanalitika

    A tantárgy angol neve: Failure Analysis

    Adatlap utolsó módosítása: 2018. február 25.

    Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem
    Villamosmérnöki és Informatikai Kar

    Villamosmérnök Szak MSc képzés

    Mikroelektronika és Elektronikai Technológia főspecializáció

    Tantárgykód Szemeszter Követelmények Kredit Tantárgyfélév
    VIETMA00 1 2/1/0/v 4  
    3. A tantárgyfelelős személy és tanszék Dr. Gordon Péter Róbert, Elektronikai Technológia Tanszék
    4. A tantárgy előadója

    Név:

    Beosztás:

    Tanszék, Int.:

    Dr. Gordon Péter

    egyetemi docens

    ETT

    Dr. Harsányi Gábor

    egyetemi tanár

    ETT

    Dr. Poppe András

    egyetemi docens

    EET

    5. A tantárgy az alábbi témakörök ismeretére épít

    Fizika, Elektronikai technológia

    6. Előtanulmányi rend
    Kötelező:
    NEM ( TárgyEredmény( "BMEVIETM154" , "jegy" , _ ) >= 2
    VAGY
    TárgyEredmény("BMEVIETM154", "FELVETEL", AktualisFelev()) > 0)

    A fenti forma a Neptun sajátja, ezen technikai okokból nem változtattunk.

    A kötelező előtanulmányi rendek grafikus formában itt láthatók.

    Ajánlott:
    -
    7. A tantárgy célkitűzése

    A tantárgy célja, hogy a hallgatók megismerjék az elektronikai gyártás és az elektronikai termékek működése során fellépő meghibásodások gyökérokainak azonosításához szükséges hibaanalitikai módszereket.

     

    A tárgyat teljesítő hallgató készséget szerez

    • az elektronikai termékekkel kapcsolatos hibák okainak azonosításához szükséges vizsgálati tervek összeállítására, a megfelelő vizsgálati módszerek kiválasztására,
    • a vizsgálatok eredményeinek értelmezésére, elemzésére és kiértékelésére,
    • a hibák gyökérokainak behatárolására, a kialakulásuk hatásmechanizmusainak feltárására gyakorlati példákon és esettanulmányokon keresztül.
    8. A tantárgy részletes tematikája

    Előadások tematikája:

    1. hét

    Bevezetés. A vizsgálati és hibaanalitikai tevékenység motivációi, helye és szerepe az elektronikai gyártás és minőségbiztosítás területén. Alkalmazott módszerek csoportosítási lehetőségei.

    2. hét

    Optikai vizsgálatok. Optikai mikroszkópia, mikroszkóp típusok, felépítésük, megvilágítási módok. Az optikai rendszerek hibái, a felbontást és mélységélességet korlátozó tényezők.

    3. hét

    Materialográfiai és keresztcsiszolati vizsgálatok. Materialográfia szerepe az elektronikai technológiában, alkalmazott anyagok, mintaelőkészítés, a vizsgálatból nyerhető információk és azok korlátai.

    4. hét

    Röntgenes szerkezetvizsgálatok. Röntgensugárzás keletkezése, jellemzői. Röntgenmikroszkópok megvalósítási formái, felépítésük. Detektor típusok, képalkotási, képfeldolgozási lehetőségek.

    5. hét

    Akusztikus mikroszkópia. Belső szerkezetek akusztikus hullámmal történő vizsgálatának alapjai, berendezések felépítése, detektorok kialakítási formái.

    6. hét

    Pásztázó elektronmikroszkópia I. Elektronmikroszkóp felépítése, az elektronoptikai rendszer hibái. Gerjesztett térfogat, szekunder és visszaszórt elektronok, karakterisztikus röntgensugárzás keletkezése

    7. hét

    Pásztázó elektronmikroszkópia II. Válaszjelek detektálása. Elektronsugaras mikroanalízis.

    8. hét

    Anyagösszetétel meghatározási módszerek I. Gerjesztő és válaszjel (elektronok, ionok, röntgen fotonok) kapcsolata, módszerek csoportosítása. XRF-röntgenfluoreszcens spektroszkópia, XPS-röntgen fotoelektron spektroszkópia, AES-Auger elektron spektroszkópa, SIMS-szekunderion tömegspektroszkópia.

    9. hét

    Anyagösszetétel meghatározási módszerek II. Infravörös spektroszkópia. A módszerek összehasonlítása alkalmazási terület, detektálási határok, detektálható elemek, felbontás szempontjából.

    10. hét

    A vizsgálati és hibaanalitikai módszerek szabványai, elektronikai gyártmányok minősítésére vonatkozó szabványok. IPC-TM-650, IPC-A-600, IPC-A-610

    11. hét

    Termikus tranziens mérés mint pre- és poszt-stressz vizsgálati módszer.

    12. hét

    Mérőrendszer analízis (MSA)

    13. hét

    Az elektronikai termékek hibaanalitikai eszköztára a gyártás-validáció szolgáltában.

    14. hét

    A félév során elhangzott anyagok összefoglalása, a tárgyon kívülre mutató összefüggések ismétlése.

     

    Tantermi gyakorlatok tematikája:

    1. alkalom

    Elektronikai termékek hibajelenségeinek összefoglalása, csoportosítási szempontok bemutatása

    2. alkalom

    Hibaanalitikai vizsgálatok vizsgálati tervének elkészítése I.

    3. alkalom

    Hibaanalitikai vizsgálatok vizsgálati tervének elkészítése II.

    4. alkalom

    Dokumentálás, szakértői jelentések készítése, értelmezése.

    5. alkalom

    A módszerek összehasonlító elemzése esettanulmányok segítségével I.

    6. alkalom

    A módszerek összehasonlító elemzése esettanulmányok segítségével II.

    7. alkalom

    A módszerek összehasonlító elemzése esettanulmányok segítségével III.

    9. A tantárgy oktatásának módja (előadás, gyakorlat, laboratórium) előadás és tantermi gyakorlat
    10. Követelmények A szorgalmi időszakban: egy sikeres nagyzárthelyi megírása a 10. héten. Ennek eredménye a félév végi osztályzatba 30%-os súllyal kerül beszámításra.

    A vizsgaidőszakban: a tantárgy írásbeli vizsgával zárul.

    11. Pótlási lehetőségek A zh pótlását egy alkalommal biztosítjuk a szorgalmi időszakban. Pót-pót ZH főszabály szerint nincs.
    12. Konzultációs lehetőségek

    Igény szerint, előre egyeztetett időpontban és az előadások valamint a tantermi gyakorlatok közötti szünetekben.

    13. Jegyzet, tankönyv, felhasználható irodalom

    Electronic Failure Analysis Handbook – Perry L. Martin, McGraw-Hill, 1999

    Szabványos vizsgálati módszerek – IPC TM-650

    A pásztázó elektronmikroszkópia és az elektronsugaras mikroanalízis alapjai – Pozsgai Imre, ELTE Eötvös Kiadó, Budapest, 1995

    14. A tantárgy elvégzéséhez átlagosan szükséges tanulmányi munka
    Kontakt óra42
    Készülés előadásokra14
    Készülés gyakorlatokra8
    Készülés zárthelyire16
    Vizsgafelkészülés40
    Összesen120
    15. A tantárgy tematikáját kidolgozta

    Név:

    Beosztás:

    Tanszék, Int.:

    Dr. Gordon Péter

    egyetemi docens

    ETT