Belépés címtáras azonosítással
magyar nyelvű adatlap
angol nyelvű adatlap
Elektronikai és mikrorendszerek termikus jellemzése
A tantárgy angol neve: Thermal Characterisation of Electronic and Microsystems
Adatlap utolsó módosítása: 2015. április 24.
Villamosmérnöki Szak
Ph.D.
Név:
Beosztás:
Tanszék, Int.:
Dr. Poppe András
egyetemi docens
BME EET
Dr. Rencz Márta
egyetemi tanár
Elektronika, mikroelektronika, szilárdtest fizika, félvezetők.
Áttekintés adása a tokozott félvezető eszközök (diszkrét alkatrészek, tokozott IC-k, teljesítmény-elektronikai alkatrészek, LED-ek, MEMS-ek), komplett elektronikai rendszerek (PCB és rendszer szinten) termikus minősítéséről, beleértve a legfejlettebb termikus tranziens méréstechnikát, elektro-termikus és logi-termikus szimulációt, CFD szimulációt. A kurzus áttekintést ad a legújabb termikus mérési és modellezési eljárásokról és azok komplex, alkatrész szinttől a rendszer szintig történő alkalmazásáról mind az elektronikai tervezés, mind gyártásközi minősítés, illetve megbízhatósági vizsgálatok terén.
1. hét: Félvezető eszközök működésének hőmérsékletfüggése – félvezetőfizikai háttér (PN-átmenet nyitófeszültsége kényszerített áram mellett, MOS struktúrák hőmérsékletfüggő paraméterei, LED-ek hatásfokának hőmérsékletfüggése). Félvezető eszközök disszipációja.
2. hét: Hőátadás módjai (kondulció, konvekció, sugárzás). Termikus és elektromos rendszerek analógiája. Hőellenállás, hőkapacitás. A termikus impedancia. Valós termikus rendszerek mint elosztott paraméteres RC rendszerek. Valós termikus rendszerek leírása, modellezése: időállandó spektrum, Foster és Cauer reprezentáció.
3. hét: A struktúrafüggvény fogalma. A termikus impedanciák különböző reprezentációinak áttekintése. Több hőforrást tartalmazó rendszerek leírása: saját impedancia, transzfer impedancia; a termikus impedancia mátrix fogalma.
4. hét: Termikus tranziens karakterizáció. Termikus impedancia mérése a gyakorlatban. A termikus tranziens mérések gyakorlata, mérési eredmények kiértékelése és értelmezése gyakorlati esetekben: struktúra függvény analízis, bemutató a T3Ster műszerrel.
5. hét: Gyakorlati alkalmazások: chip rögzítés minősítése, stacked die tokok karakterizációja, termikus határfelületi anyagok minősítése, PCB lemezek effektív hővezetőképességének meghatározása. A termikus mérések gyakorlati megvalósítása.
6. hét: LED-ek termikus méréstechnikája: kombinált termikus és radiometriai/fotometriai mérések, bemutató a TeraLED műszerrel.
7. hét: Gyártásközi és élettartam alatti termikus tesztelés problémái. Termikus tesztelhetőre tervezés: elektromos séma, alkalmas disszipáló és érzékelő struktúrák. Élettartam alatti termikus tesztelés problémái (ismeretlen hőmérsékletérzékenység, a hőmérsékletérzékenység driftje).
8. hét: Megbízhatósági vizsgálatok termikus tranziens mérések segítségével. Esettanulmány: LED-ek élettartam vizsgálata.
9. hét: Termikus modellezés és szimuláció. Analitikus és numerikus modellezés. Egydimenziós és többdimenziós hőterjedés. Állandósult állapotbeli és tranziens hőterjedés. Termikus kezdeti és peremfeltételek. Termikus tér számítása Fourier-módszerrel. A módszer alkalmazása réteges struktúrák (pl. nyomtatott huzalozású lemezek, integrált áramkörök, IC tokok) vizsgálatára. A módszer korlátai.
10. hét: Hővezetés számítása véges differencia módszerrel: állandósult állapotbeli és tranziens modellek. MEMS eszközök termomechanikai modellezése. A végeselem módszer.
11. hét: Hővezetés számítása véges térfogatok módszerével. Termikus térszámító módszerek összehasonlítása elektronikai és mikrorendszerek modellezése szempontjából. A szukcesszív hálózatredukciós módszer. Csatolt elektromos-termikus terek szimulációja integrált áramkörökben és mikrorendszerekben: Joule-hő, Seebeck-hatás, Peltier-Thomson hatás. Nagy felületű PN átmenetet tartalmazó eszközök elosztott elektrotermikus szimulációja.
12. hét: Hőterjedés konvekcióval: a Navier-Stokes egyenlet. Lamináris és turbulens áramlás. Konvekció és hőmérsékleti sugárzás mint hővezetési probléma peremfeltétele. Természetes és kényszerített konvekció számítása egyszerű felületek (sík, gömb, henger) esetén, hasonlósági kritériumok. Áramlástani (CFD) szimulációk.
13. hét: Kompakt termikus modellek. Modellek készítése mérések alapján – LED tokok kompakt modellje RthJC mérések alapján (transient dual interface method), alkalmazási példa: LED lámpatest tervezése. IC tokok termikus kompakt modelljei: 2R és DELPHI modellek.
14. hét: Termikus hatások figyelembe vétele chip szinten. Termikus hatások analóg integrált áramkörökben: elektro-termikus szimuláció. Termikus hatások digitális áramkörökben: logi-termikus szimuláció. Esettanulmányok bemutatása.
Előadás, gyakorlati bemutatókkal (valós problémák méréstechnikai és szimulációs esettanulmányaival)
a. A szorgalmi időszakban: 1 nagyzárthelyi elégséges szintre való megírása. vizsgaidőszakban: a vizsga letétele (írásbeli).
c. Elővizsga: van
Az utolsó oktatási héten pótzh írását biztosítjuk, sikertelen pótzh esetén a pótlás a pótlási időszakban egyszer lehetséges.
Bejelentkezés alapján folyamatosan.
http://link.springer.com/book/10.1007/978-1-4614-5091-7 Ezen belül különösen ajánlottak az alábbi fejezetek:
Kontakt óra
28
Félévközi készülés órákra
6
Felkészülés zárthelyire
Házi feladat elkészítése
0
Kijelölt írásos tananyag elsajátítása
Vizsgafelkészülés
20
Összesen
60
Dr. Pohl László
adjunktus