Budapest University of Technology and Economics, Faculty of Electrical Engineering and Informatics

    Belépés
    címtáras azonosítással

    vissza a tantárgylistához   nyomtatható verzió    

    Elektronmikroszkópos anyagvizsgálat

    A tantárgy angol neve: Materials Testing by Electron Microscopy

    Adatlap utolsó módosítása: 2006. szeptember 18.

    Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem
    Villamosmérnöki és Informatikai Kar

    Villamosmérnöki Szak

    Választható tárgy

    Tantárgykód Szemeszter Követelmények Kredit Tantárgyfélév
    GEMT2531   3/0/0/v 5 1/1
    4. A tantárgy előadója

    Név:

    Beosztás:

    Tanszék, Int.:

    Dr. Szabó Péter János

    docens

    ATT

    5. A tantárgy az alábbi témakörök ismeretére épít

    A tantárgy a középiskolai matematika, fizika, kémia tananyagra, valamint anyagtudományi alapismeretekre épít.

    6. Előtanulmányi rend
    Kötelező:
    Training.code=("2N-00")vagy
    (Félév( ahol az EredményTípus = "KREDIT", ahol a Ciklus = "1,2,3,4,5,6,7,8,9,10" , ahol a CiklusTípus = "AKTIV") >=60 ÉS NEM (Training.code=("2N-AM0")) )

    A fenti forma a Neptun sajátja, ezen technikai okokból nem változtattunk.

    A kötelező előtanulmányi rendek grafikus formában itt láthatók.

    Ajánlott:

    Anyagtudomány GEMT 1532, vagy GEMT1015

    7. A tantárgy célkitűzése

    Az elektronmikroszkóp működési elvének megismerése, kezelésének gyakorlása.

    8. A tantárgy részletes tematikája

    Bevezetés, a félév tematikájának gyors áttekintése. A transzmissziós elektronmikroszkóp (TEM) felépítése, képalkotás. Eltérítő tekercsek, lencsék, lencshibák, a képalkotás optikája. Különleges üzemmódok (sötét látóterű megvilágítás, weak beam technika, határolt területű mikroszkópia). Elektron-diffrakció (reciprok-rács, Bragg-diffrakció, Kikuchi-vonalak, felhasználás). TEM alkalmazásai. Mintaelőkészítés, diffrakciós ábrák és mikroszkópos képek értelmezése. Kristályhibát tartalmazó rács képe. Különleges TEM-ek: az analitikai elektronmikroszkópia alapjai. A pásztázó elektronmikroszkóp (SEM) helye a korszerű anyagtudományban. Az elektron és az anyag kölcsönhatása. A SEM felépítése: vákuumrendszer, elektronágyú, lencsék, lencsehibák, pásztázó tekercsek, eltérés a TEM-től. Képalkotás, alapfogalmak, kontraszthatások, detektorok. A digitális képfeldolgozás alapjai. Mintaelőkészítés, speciális területek (kis feszültségű elektronmikroszkópia, környezetszimuláló elektronmikroszkóp, alagútmikroszkóp). Energia-diszperzív és hullámhossz-diszperzív röntgenanalízis (EDS, WDS), röntgen fluoreszcencia. Az elektronsugaras berendezések speciális alkalmazásai (EBSP, XRF). Alagútmikroszkópia.

    9. A tantárgy oktatásának módja (előadás, gyakorlat, laboratórium)

    (előadás, gyakorlat, laboratórium):

    A hallgatók előadásokon megismerik az elektronmikroszkópia elvi alapjait, és önálló féléves feladatot oldanak meg. Ez utóbbihoz a Tanszéken üzemelő Philips XL-30 típusú pásztázó elektronmikroszkóp biztosítja a hátteret.

    10. Követelmények

    a. A szorgalmi időszakban: a nagyfeladattal kapcsolatos mérések elvégzése, és a feladat legalább elégséges szintű elkészítése és beadása.

    b. A vizsgaidőszakban: A vizsga írásbeli, szóbeli javítási lehetőséggel, előzetes jelentkezéshez kötött. Elégtelen írásbeli vizsgadolgozat szóbelivel nem javítható. Ismétlővizsgára bármelyik későbbi még be nem telt vizsganapra jelentkezni kell. Elégséges írásbeli eredmény (min. 40 % pontszám) esetén a szóbeli kötelező, egyéb eredmények esetén szóbeli javítási lehetőség választható, vagyis közepes, jó és jeles írásbeli eredményt vizsgaosztályzatként megajánlunk. Elégségesnél jobb vizsga írásbeli esetén többlet vizsgapontszámmal vesszük figyelembe a jó vagy jeles minősítésű féléves feladatokat.

    1. Elővizsga: a szorgalmi időszak utolsó hetében.
    11. Pótlási lehetőségek

    A nagyfeladatokhoz kapcsolódó elektronmikroszkópos mérések pótlása egyéni megbeszélés alapján történik.

    12. Konzultációs lehetőségek

    A félév során a tanszéki hirdetőtáblán megadott időpontokban konzultációt tartunk.

    13. Jegyzet, tankönyv, felhasználható irodalom

    Radnóczy György: A transzmissziós elektronmikroszkópia és elektrondiffrakció alapjai.

    KLTE Debrecen, 1994.

    Pozsgai Imre: A pásztázó elektronmikroszkópia és az elektronsugaras mikroanalízis
    alapjai. ELTE Budapest, 1995.

    14. A tantárgy elvégzéséhez átlagosan szükséges tanulmányi munka

    (a tantárgyhoz tartozó tanulmányi idő körülbelüli felosztása a tanórák, továbbá a házi feladatok és a zárthelyik között (a felkészülésre, ill. a kidolgozásra átlagosan fordítandó/elvárható idők félévi munkaórában, kredit x 30 óra, pl. 5 kredit esetén 150 óra)):

     

    Kontakt óra

    60

    Félévközi készülés órákra

    15

    Házi feladat elkészítése

    50

    Kijelölt írásos tananyag elsajátítása

    10

    Vizsgafelkészülés

    15

    Összesen

    150

    15. A tantárgy tematikáját kidolgozta

    Név:

    Beosztás:

    Tanszék, Int.:

    Dr. Szabó Péter János

    docens

    ATT